吉時(shí)利推出高功率高性能可編程直流電源

先進(jìn)電氣測試儀器與系統(tǒng)的*吉時(shí)利儀器日前宣布，推出2260B系列可編程直流電源，包括兩款360W型號(hào)和兩款720W型號(hào)。2260B系列是zui近推出的2200系列單通道和多通道電源產(chǎn)品的補(bǔ)充，旨在滿足需要更高功率和性能的臺(tái)式、嵌入式和制造測試應(yīng)用。

先進(jìn)電氣測試儀器與系統(tǒng)的*吉時(shí)利儀器日前宣布，推出2260B系列可編程直流電源，包括兩款360W型號(hào)和兩款720W型號(hào)。2260B系列是zui近推出的2200系列單通道和多通道電源產(chǎn)品的補(bǔ)充，旨在滿足需要更高功率和性能的臺(tái)式、嵌入式和制造測試應(yīng)用。現(xiàn)在有了2260B和2200系列，吉時(shí)利電源可以滿足研究、設(shè)計(jì)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試等領(lǐng)域的低功率和高功率應(yīng)用。

研發(fā)、制造測試和質(zhì)檢工程師在進(jìn)行復(fù)雜電子產(chǎn)品和元器件特性分析和調(diào)試時(shí)需要高精度和高可靠電源。與某些常見的競爭電源產(chǎn)品(其功能較少、電源范圍靈活性較差)相比，2260B系列電源可提供業(yè)界*的性能和特性，如可編程斜率和電池模擬。

2260B-30-36型和2260B-80-13型360W可編程直流電源能夠提供多種電壓和電流，對(duì)于需要更高功率的應(yīng)用，2260B-30-72型和2260B-80-27型電源可提供720W輸出。根據(jù)所需的型號(hào)，2260B系列電源可提供80V電壓或72A電流，其輸出電平范圍寬，加上以太網(wǎng)或USB連通性以及可選配GPIB接口，使得2260B系列電源非常適合以下應(yīng)用：環(huán)境、應(yīng)力和加速老化測試、LED和高功率元器件測試、汽車測試、電池研究與測試、生產(chǎn)測試。

可編程上升時(shí)間，避免器件受損

在電源啟動(dòng)供電時(shí)，為了避免瞬態(tài)電壓過沖尖脈沖引起的待測器件(DUT)損壞，2260B系列電源具有可編程電壓和電流上升時(shí)間(或斜率)控制功能。電流上升時(shí)間可編程使得2260B系列電源處于恒流控制優(yōu)先模式，這樣電流斜率可以限制待測器件(DUT)電壓降的上升速率。此外，還可以對(duì)下降時(shí)間進(jìn)行獨(dú)立編程，而且下降時(shí)間值與上升時(shí)間值可以不同。因此，可以對(duì)施加于負(fù)載的電源進(jìn)行控制，防止過沖尖脈沖、高浪涌電流、欠沖尖脈沖及高關(guān)閉瞬態(tài)電流。這不僅有助于防止元件、器件、模塊受損，而且可以生成更的元器件(如LED)I-V特性分析曲線，可編程開-關(guān)延遲允許在時(shí)間開啟或關(guān)閉電路，確保根據(jù)需要施加并安全移除電源。

電池模擬能力

為了在逼真條件下對(duì)電池供電電路或器件進(jìn)行測試，建議使用具有電池特征性能的測試源。例如，電池一般都具有可變內(nèi)阻， 因而被供電器件兩端的電壓會(huì)由于電池內(nèi)阻分壓而減小。2260B系列電源可編程輸出電阻高達(dá)5.9?，可以模擬電池內(nèi)阻。在測試汽車電路時(shí)，可以模擬鉛酸電池或鋰離子電池。因此，有了模擬汽車電池性能的電源，可以對(duì)汽車電路進(jìn)行測試。

通過串行和并行組合，擴(kuò)展電壓和電流輸出

當(dāng)應(yīng)用所需電壓超過80V時(shí)，用戶可以將兩臺(tái)2260B電源進(jìn)行串聯(lián)，可以使zui大輸出電壓達(dá)到160V，或者將3臺(tái)2260B型電源進(jìn)行并聯(lián)，可以使zui大輸出電流達(dá)到216A。在電源串聯(lián)或并聯(lián)配置中，可采用主從配置控制方式，主機(jī)顯示整個(gè)電壓和電流。這種主從操作意味著控制必須只能與1臺(tái)2260B電源進(jìn)行接口，然后由它控制系統(tǒng)中的其他電源。通過多臺(tái)電源組合，可提供高達(dá)2160W的zui高功率。

可為自動(dòng)測試選配靈活的接口

2260B系列電源通過USB、LAN或可選配GPIB接口，提供與自動(dòng)測試系統(tǒng)接口的靈活性。它們還提供模擬控制能力，可通過外部電壓或電阻調(diào)節(jié)輸出。有了模擬輸入控制功能，可利用2260B系列電源生成復(fù)雜波形。此外，可利用模擬輸入生成直流噪聲電平，查看待測電路的電阻噪聲?？焖俜烹娔芰χС盅杆籴尫泡敵龆丝陔妷海稍趜ui小的測試時(shí)間延遲內(nèi)對(duì)另一個(gè)電壓進(jìn)行編程和生成?？焖?1ms)瞬態(tài)恢復(fù)時(shí)間確保對(duì)負(fù)載變化的快速響應(yīng)?？焖俜烹姇r(shí)間和快速瞬態(tài)影響的結(jié)合，有助于增加自動(dòng)測試系統(tǒng)的吞吐量